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摘要:截线法的基本思想是,通过用一定长度的直线截过晶粒,可以计算平均多长的直线可以截过一个晶粒,也就是平均晶粒尺寸。

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材料分析手段是十分丰富的。

笔者认为,材料专业运用最广泛的分析手段之一是谱图类的分析手段。

其中XRD (X-Ray Diffraction,X射线衍射分析)是其中典型代表。其原理可靠,已经过漫长的时间考验,多位学者依靠对其深入研究而获诺贝尔奖项,称之为材料表征界之“元老”也不为过。

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